收藏本页 | 设为主页 | 随便看看
普通会员

宁波盘羊仪器有限公司

电压降测试仪, 电阻率测试仪, 体积电阻率测试仪,高温电阻率测试仪,四探针电阻率测...

产品分类
  • 暂无分类
站内搜索
 
友情链接
  • 暂无链接
您当前的位置:首页 » 供应产品 » 盘羊石墨炭素材料电导率测试仪
盘羊石墨炭素材料电导率测试仪
点击图片查看大图
产 品: 浏览次数:724盘羊石墨炭素材料电导率测试仪 
品 牌: 盘羊仪器 
单 价: 3422311.00元/台 
最小起订量: 1 台 
供货总量: 2365 台
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
更新日期: 2017-12-03 21:55  有效期至:长期有效
  询价
详细信息

分辨率:

1

用途:

四探针测试法测量碳素材料,石墨等块状棒状及粉末材料常温下高导电性能

测量范围:

四探针测试法测量碳素材料,石墨等块状棒状及粉末材料常温下高导电性能

测量方法:

伏安法

测量精度:

1

测试电压:

9V

产品重量:

6

电源电压:

1

环境温度范围:

常温

精度:

0.01

类型:

直流低电阻测试仪

校准周期:

1年

品牌:

盘羊仪器

型号:

FT-310

加工定制:

电 源:

220V

外形尺寸(长x宽x高):

330*350*120

炭素材料电阻率测试仪,方大炭素石墨烯,石墨炭素材料电导率测试仪炭素电阻率测试仪

 

FT-310炭素电阻率测试仪

一.四探针测试法测量碳素材料,石墨等块状棒状及粉末材料常温下高导电性能。该仪器采用高精度恒流恒压源,自动显示电流和电压并根据测试产品特性自动转换测试量程,无需手动调节和设定。4.3吋液晶屏幕显示,自动显示测试测试电流、电压、温度、电阻率等数据,选配:如配备软件可,通过软件操控仪器工作,并获得测试数据之图表和测试结果。根据产品形状不同可以选配测试治具.

二.适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门对新材料之研究,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具.

三.满足标准:铝用炭素材料检测方法第2部分阴极炭块和预焙阳极室温电阻率的测定GB/T6717、GB/T 24525-2009、YS/T63.2炭素材料电阻率测定方法.同时满足ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005和YS/T 64-1993标准方法测试阴极炭块、预焙阳极、阳极糊阴极糊和炭素制品常温下的电阻率。同时也适用于对导体材料电导率高要求之测试  石墨炭素材料电导率测试仪,炭素电阻率测试仪

超低值电阻及电阻率测量.

FT-310炭素材料电阻率测试仪是炭素材料制品的电阻率值是评价炭制品电极质量,决定产品出厂等级的重要物理指标之一,也是在炭制品加工中控制监督工艺过程的重要参数。

本仪器主要由主机和测试治具两部分组成,结构设计符合人体工学要求,

测量电阻灵敏度达0.01μΩ,电阻率灵敏度高达0.0001μΩ·m。

,最大测试电流能达到10A,本仪器测量电压精度高达±0.05%,输出恒流直流电流精度和稳定度优于0.1%,确保了本仪器测量电阻精度优于0.2%,可以准确测量炭素电极的电阻率,

FT-310炭素材料电阻率测试仪

主要技术指标

1.电压:量程:2mV ,20mV, 200mV ,2V

           分辨率:0.1uV,1uV,10uV,100uV

        量程误差:2mV档:   0.1%读数+ 6个字

         20mV, 200mV, 2V档:0.1%读数+ 2字

 2直流恒流源:输出:100uA,1mA,10mA,100mA,1A,10A,

               误差:100uA,1mA,10mA,100mA:0.1%;

                       1A,10A:0.15%

3.测量范围:炭素长度:1.6m—2m;炭素直径:100mm—600mm

电阻率:2×10-8—20kΩ·cm;电阻:0.01μΩ—20kΩ;

4.最小电阻分辩率:0.01μΩ

5.显示:4.3寸液晶屏显示、直读电阻值、电阻率、电导率、温度、电流、电压等数据

6.电源交流220±10% 50HZ或者60HZ功率1.1KW

相关产品:FT-310炭素电阻率测试仪;FT-303表面电率阻率/体积电阻率测试仪;FT-304绝缘材料表面/体积电阻率测试仪;FT-302电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪;FT-300经济型粉末电阻率测试仪;FT-300A材料电阻率测试仪;  FT-300B电线电缆电阻率测试仪;FT-320材料超低电阻及电阻率测试仪;FT-300C材料电导率测试仪;FT-300D方块电阻测试仪;FT-301多功能粉末电阻率测试仪

 

 

块状和棒状样品体电阻率测量:

      由于块状和棒状样品外形尺寸与探针间距比较,合乎于半无限大的边界条件,电阻率值可以直接由(1)、(2)式求出。

簿片电阻率测量

      簿片样品因为其厚度与探针间距比较,不能忽略,测量时要提供样品的厚度形状和测量位置的修正系数。

电阻率值可由下面公式得出:






式中:ρ0为块状体电阻率测量值;

W:为样品厚度(um);S:探针间距(mm);

G(W/S)为样品厚度修正函数,可由附录IA或附录1B查得;

D(d/S)为样品形状和测量位置的修正函数,可由附录2查得。W/S<0.5时,实用。

当圆形硅片的厚度满足W/S<0.5时,电阻率为:

     




询价单
0条  相关评论